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光纖式非接觸式位移計PM-E測量原理分析

  • 發(fā)布日期:2023-02-09      瀏覽次數(shù):641
    • 光纖式非接觸式位移計PM-E測量原理分析

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      PM-E是一種通過光纖將光照射到被測物體并檢測反射光,從而可以輕松地以非接觸方式測量物體位移的裝置。被測物體的反射光量隨被測物體與光纖探頭端面的距離(間隙)的不同而不同,如下圖所示。此時反射光相對于圖中?(前坡)和?(后坡)區(qū)域的間隙幾乎呈線性變化,因此這些區(qū)域被用于位移測量。
      由于一個單元具有兩個位移檢測特性,您可以在需要高分辨率的測量中使用前斜率,在需要寬測量范圍的測量中使用后斜率。此外,?(光峰位置)對位移的敏感度低,因此可用于檢測被測物的表面狀況和缺陷。

      它是一種通過光纖將光照射到被測物體并檢測反射光,從而實現(xiàn)位移和振動的高速非接觸變化的裝置。
      由于它利用光進行測量,因此被測物體上沒有負載,不受磁場或電場的影響。
      追求小型化和簡單化的“PM-E"是一款滿足研發(fā)和各種工業(yè)領(lǐng)域廣泛要求的產(chǎn)品。
      • ?完quan非接觸式,可廣泛用于測量振動、位移、表面狀態(tài)等。

      • ?抗電磁干擾,可進行微點測量

      • ?因為前斜面和后斜面都可以使用,所以可以同時實現(xiàn)高靈敏度和寬范圍。

      • ?維護簡單快捷,費用低


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